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體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀儀器簡(jiǎn)單介紹體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω～1×1018Ω，是目前國(guó)內(nèi)測(cè)...

電壓擊穿試驗(yàn)儀為何交流電壓下測(cè)得的擊穿電壓比直流低的疑問。（銷售體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）在交變電場(chǎng)下介電系數(shù)是電場(chǎng)頻率的函數(shù)，當(dāng)電場(chǎng)頻率小時(shí)，介電損耗就小，電場(chǎng)頻率高時(shí)，介電損耗就高，就越易被擊穿，請(qǐng)參看德拜方程；而直流電壓下，電場(chǎng)不發(fā)...

影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要原因（介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀）擊穿電壓的主要因素影響固體介質(zhì)擊穿電壓的因素甚多，下面介紹幾種主要的影響因素。電壓作用時(shí)間如果電壓作用時(shí)間很短，固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿，擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長(zhǎng)，擊...

介質(zhì)損失角正切tgδ越大介質(zhì)損耗越大嗎（電壓擊穿試驗(yàn)儀/體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）絕緣介質(zhì)在交流電壓作用下的介質(zhì)損耗有兩種：一是由電導(dǎo)引起的電導(dǎo)損耗，二是由極化引起的極化損耗。介質(zhì)中如無損耗，則流過的電流是純無功電容電流，并超前電壓向量9...

電壓擊穿試驗(yàn)儀軟件程序控制功能：☆1．該設(shè)備試驗(yàn)過程中可動(dòng)態(tài)繪制出試驗(yàn)曲線，試驗(yàn)的曲線可以多種顏色疊加對(duì)比，局部放大，曲線上任意一段可進(jìn)行區(qū)域放大分析?！?．可對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯修改，靈活適用；☆3．試驗(yàn)條件及測(cè)試結(jié)果等數(shù)據(jù)可自動(dòng)存儲(chǔ)；☆4...

電壓擊穿試驗(yàn)儀技術(shù)方法分析（供應(yīng)：體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）1測(cè)試方法1.1標(biāo)準(zhǔn)的比較目前關(guān)于絕緣油擊穿電壓測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)比較常用的有GB/T507—1986《電氣用油絕緣強(qiáng)度測(cè)定法》和DL/T429—1991《電力系統(tǒng)油質(zhì)試驗(yàn)方法》，其...

體積電阻率和表面電阻率測(cè)試儀儀器技術(shù)指標(biāo)（供應(yīng)電壓擊穿試驗(yàn)機(jī)）1.電阻測(cè)量范圍：0.01×104Ω～1×1018Ω。2.電流測(cè)量范圍為:2×10-4A～1×10-16A3.雙表頭顯示:3.1/2位LED顯示4.內(nèi)置測(cè)試電壓：10V、50V、...