介電常數(shù)測試儀應用范圍和介紹
應用范圍：
測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（介質(zhì)損耗角正切值）
技術參數(shù)：
| 序號 | 項目 | 參數(shù) |
| 1 | 信號源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
| 2 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-500PF |
| 3 | 調(diào)諧電容誤差和分辨率 | ±1.5P或<1%< p=""> |
| 4 | Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
| 5 | Q測量工作誤差 | <5%< p=""> |
| 6 | Q分辨率 | 4位有效數(shù)，分辨率0.1 |
儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。
大電容值直接測量顯示。
參照標準：ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法；
GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法；
GB/T 1693-2007、ASTM D150-11、GB/T1409-2006、GBT5594.4-2015介電性能測試儀 GB/T 1693 ASTM D150是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。
產(chǎn)品介紹:
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。
介電常數(shù)測試儀術語
定義：
這些試驗方法所用術語定義以及電絕緣材料相關術語定義見術語標準D1711。
本標準專用術語定義：
電容，C，名詞——當導體之間存在電勢差時，導體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。
討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時，電容單位為法拉，即：
C=q/V ?。?）
耗散因子（D），（損耗角正切），（tanδ），名詞——是指損耗指數(shù)（K''）與相對電容率（K'）之間的比值，它還等于其損耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（見圖1和圖2）。
D=K''/K' (2)
4 相關ASTM標準，ASTM標準手冊卷次信息，可參見ASTM網(wǎng)站標準文件匯總。
5 該歷史標準的較后批準版討論——a：
D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp (3)
式中：
G=等效交流電導，
Xp=并聯(lián)電抗，
Rp=等效交流并聯(lián)電阻，
Cp=并聯(lián)電容，
ω=2πf（假設為正弦波形狀）
耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q，有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：
D=ωRsCs=1/ωRpCp (4)
串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關系滿足以下要求：
Cp=Cs/(1 D2) (5)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2 (6)
